PK-DTA3320差热分析仪

仪器创新点：炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精度高，易于操作；

产品描述

产品介绍：
差热分析是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。
仪器特点：
1：仪器主控芯片采用Cortex-M3内核ARM控制器，运算处理速度更快，温度控制更精确。
2：采用USB双向通讯，操作更便捷。
3：采用7寸24bit色全彩LCD触摸屏，界面更友好。
4：采用铂铑合金传感器，更耐高温、抗腐蚀、抗氧化。
仪器参数：
PK-DTA3320技术参数
温度范围：室温~1150℃
量程范围：0～±2000μV
DTA精度： ±0.1μV
升温速率：1～80℃/min
温度分辨率：0.1℃
温度准确度：±0.1℃
温度重复性：±0.1℃
温度控制：升温：程序控制可根据需要进行参数的调整;
降温：风冷程序控制
恒温：程序控制恒温时间任意设定
炉体结构：炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精度高，易于操作
气氛控制：内部程序自动切换
数据接口：标准USB接口配套数据线和操作软件
主机显示：24bit色, 7寸 LCD触摸屏显示
参数标准：配有标准物，带有一键校准功能，用户可自行对温度进行校正
基线调整：用户可通过基线的斜率和截距来调整基线
工作电源：AC 220V 50Hz